場發射掃描電鏡
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產品名稱:
場發射掃描電鏡
產品型號:
SEM4000
產品展商:
REANOW/雷若科技
產品文檔:
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簡單介紹
SEM4000場發射掃描電鏡是一款分析型熱場發射掃描電子顯微鏡，配備了高亮度、長壽命的肖特基場發射電子槍。
場發射掃描電鏡 的詳細介紹
SEM4000場發射掃描電鏡是一款分析型熱場發射掃描電子顯微鏡，配備了高亮度、長壽命的肖特基場發射電子槍。三級磁透鏡設計，束流大且連續可調，在EDS、EBSD、WDS等應用上具有明顯優勢。支持低真空模式，可直接觀察導電性弱或不導電樣品。標配的光學導航模式，以及直觀的操作界面，讓您的分析工作倍感輕松。
場發射掃描電鏡
*低真空模式
高分辨率
束流連續可調
*1min內快速換樣
三級磁透鏡
無漏磁物鏡
產品特點
02
分辨率高，30 kV下優于1 nm的極限分辨率
04
*低真空模式，以及高性能的低真空二次電子探測器，可觀察導電性弱或不導電樣品
06
標配的光學導航模式，中文操作軟件，讓分析工作更輕松
應用案例
PA-玻纖復合材料
加速電壓：10 kV / 放大倍率：×500
二氧化硅微球
加速電壓：10 kV / 放大倍率：×80000
金屬斷口
加速電壓：15 kV / 放大倍率：×5000
金屬微觀組織（鋁銅焊接件）
加速電壓：20 kV / 放大倍率：×10000
水菜花花粉
加速電壓：10 kV / 放大倍率：×50000
鈦酸鍶鋇陶瓷
加速電壓：10 kV / 放大倍率：×10000
鈦合金
加速電壓：10 kV / 放大倍率：×5000
鈦合金
加速電壓：10 kV / 放大倍率：×10000
產品參數
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關鍵參數
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分辨率
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1 nm @ 30 kV，SE
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0.9 nm @ 30 kV, STEM
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加速電壓
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200 V ~ 30 kV
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放大倍率
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1 ~ 1,000,000 x
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電子槍類型
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肖特基場發射電子槍
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樣品室
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真空系統
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全自動控制
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低真空模式（選配）
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*大180Pa
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攝像頭
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雙攝像頭（光學導航+樣品倉內監控）
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行程
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X：120 mm
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Y：115 mm
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Z：50 mm
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T: -10°~ +90°
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R: 360°
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探測器和擴展
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標配
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側向低角度電子探測器
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選配
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低真空二次電子探測器
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背散射電子探測器
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STEM自動插入式掃描透射探測器
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樣品交換倉
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EDS能譜儀
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EBSD背散射衍射
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EBIC電子束感生電流
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CL陰極熒光
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高低溫原位拉伸臺
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納米機械手
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大圖拼接
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軌跡球&旋鈕控制板
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軟件
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語言
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中文
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操作系統
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Windows
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導航
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光學導航、手勢快捷導航
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自動功能
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自動亮度對比度、自動聚焦、自動像散
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