鎢燈絲掃描電鏡

碳材料樣品，低電壓下，穿透深度較小，可以獲取樣品表面真實形貌，細節更豐富。

毛發樣品，在低電壓下，電子束輻照損傷減小，同時消除了荷電效應。

 低真空

過濾纖維管材料，導電性差，在高真空下荷電明顯，在低真空下，無需鍍膜即可實現對不導電樣品的直接觀察。

 大視場

生物樣品，采用大視場觀察，能夠輕松獲得瓢蟲整體形貌及頭部結構細節，展現跨尺度分析。

光學導航

想看哪里點哪里，導航更輕松
標配倉內攝像頭，可拍攝高清樣品臺照片，快速定位樣品。

手勢快捷導航

可通過雙擊移動、鼠標中鍵拖動、框選放大，進行快捷導航
如框選放大：在低倍導航下，獲得樣品的大視野情況，可快速框選您感興趣的樣品區域，提高工作效率。

防碰撞技術

采取多維度的防碰撞方案：
1. 手動輸入樣品高度，精準控制樣品與物鏡下端距離，防止發生碰撞；
2. 基于圖像識別和動態捕捉技術，運動過程中對倉內的畫面進行實時監測；
3. 硬件防碰撞，可在碰撞一瞬間停止電機，減少碰撞損傷。(*SEM3200A需選配此功能）

智能輔助消像散

直觀反映整個視野的像散程度，通過鼠標點擊清晰處，可快速調節像散至*佳。

自動聚焦

一鍵聚焦，快速成像。

自動消像散

一鍵消像散，提高工作效率。

自動亮度對比度

一鍵自動亮度對比度，調出灰度合適圖像。

多種信息同時成像

SEM3200軟件支持一鍵切換SE和BSE的混合成像。可同時觀察到樣品的形貌信息和
成分信息。

快速圖像旋轉

拖動一條線，圖像立刻“擺正角度"。

鍍層樣品：

鎢鋼合金樣品：

四分割背散射電子探測器——多通道成像

探測器設計精巧，靈敏度高，采用4分割設計，無需傾斜樣品，可獲得不同方向的陰影像以及成分分布圖像。

四個單通道的陰影像

成分像

能譜

LED小燈珠能譜面分析結果。 

電子背散射衍射

鎢燈絲電鏡束流大，高分辨EBSD的測試需求，能夠對金屬、陶瓷、礦物等多晶材料進行晶體取向標定以及晶粒度大小等分析。
該圖為Ni金屬標樣的EBSD反極圖，能夠識別晶粒大小和取向，判斷晶界和孿晶，對材料組織結構進行**判斷。